Firma ICSPI byla založena v roce 2007 v Kanadě s cílem přinést na trh metrologii v nanoměřítku dostupnou pro každého, která bude robustní a zároveň se bude jednoduše obsluhovat.
Po desetiletém výzkumu v rámci kanadské „University of Waterloo“ se firmě ICSPI podařilo komercializovat ve světě první jednočipový mikroskop atomárních sil. A tak byl v roce 2017 uveden na trh nGauge AFM. nGauge překonal všechna zažitá očekávání od AFM a obecně metrologie v nanoměřítku, když přinesl nové řešení, kdy všechny skenery a senzory jsou integrovány na jediný CMOS čip o rozměrech 1 x 1 mm!
NGauge AFM je využíván vědci, výzkumnými pracovníky a inženýry na univerzitách, ve vládních institucích i v komerční sféře, a to napříč všemi velikostmi těchto institucí. Využití zahrnuje mnoho nejrůznějších aplikací jak z oblasti výzkumu a výuky, tak i v oblasti průmyslu, kde se jedná především o kontrolu kvality.
Podívejte se na aplikační listy pro tyto oblasti:
Biologie a life science, nanoimprint a litografie, měření tloušťky filmu, kovy a minerály, polovodičová zařízení a mikrovýroba, výzkum polymerů a kompozitů
Základní technické parametry:
Scanning
Scan types: Topography, Phase
Scan size : 20 μm × 20 μm
Scan size: (25 stitched) 100 μm × 100 μm
XY Scanner Resolution: <0.5 nm
Vertical Scan Range: 10 μm
Noise floor: <0.5 nm
Resolution and Speed
Quick scan: 16 sec
Routine scan: 80 sec
High-resolution scan: 5 min
Max resolution: 1024 x 1024 pixels
Samples
Max sample size: 100 mm x 50 mm x 20 mm
Max sample weight: 1 kg
