Firma ICSPI byla založena v roce 2007 v Kanadě s cílem přinést na trh metrologii v nanoměřítku dostupnou pro každého, která bude robustní a zároveň se bude jednoduše obsluhovat.

Po desetiletém výzkumu v rámci kanadské „University of Waterloo“ se firmě ICSPI podařilo komercializovat ve světě první jednočipový mikroskop atomárních sil. A tak byl v roce 2017 uveden na trh nGauge AFM. nGauge překonal všechna zažitá očekávání od AFM a obecně metrologie v nanoměřítku, když přinesl nové řešení, kdy všechny skenery a senzory jsou integrovány na jediný CMOS čip o rozměrech 1 x 1 mm!

NGauge AFM je využíván vědci, výzkumnými pracovníky a inženýry na univerzitách, ve vládních institucích i v komerční sféře, a to napříč všemi velikostmi těchto institucí. Využití zahrnuje mnoho nejrůznějších aplikací jak z oblasti výzkumu a výuky, tak i v oblasti průmyslu, kde se jedná především o kontrolu kvality.

Podívejte se na aplikační listy pro tyto oblasti:

Biologie a life science, nanoimprint a litografie, měření tloušťky filmu, kovy a minerály, polovodičová zařízení a mikrovýroba, výzkum polymerů a kompozitů

 

Základní technické parametry:

Scanning

Scan types:                           Topography, Phase

Scan size :                             20 μm × 20 μm

Scan size:                             (25 stitched) 100 μm × 100 μm

XY Scanner Resolution:     <0.5 nm

Vertical Scan Range:          10 μm

Noise floor:                          <0.5 nm

 

Resolution and Speed

Quick scan:                       16 sec

Routine scan:                   80 sec

High-resolution scan:     5 min

Max resolution:                1024 x 1024 pixels

Samples

Max sample size:             100 mm x 50 mm x 20 mm

Max sample weight:       1 kg

Rychlý kontakt

Servis

Servisní
požadavek

Přejít na formulář

Rychlé odkazy

Servis
Servisní tým
 

ALTIUM webináře
Záznamy webinářů
 

Zůstaňte s námi v kontaktu

Odběr newsletteru

Přihlásit se k odběru