Tenké vrstvy a povrchy

  • Charakterizace sub-nm bandpass filtrů
    pdf, 103.03 KB
  • Měření fotovoltaických článků pomocí Cary 5000 s DRA2500
    pdf, 138.54 KB
  • Měření tloušťky vrstvy reflektančními technikami
    pdf, 277.35 KB
  • Charakterizace sub-nm bandpass filtrů
    pdf, 103.03 KB
  • Měření tloušťky vrstvy reflektančními technikami
    pdf, 277.35 KB
  • Charakterizace sub-nm bandpass filtrů
    pdf, 103.03 KB
  • Měření tloušťky vrstvy reflektančními technikami
    pdf, 277.35 KB
  • Měření vysoké optické hustoty_8Abs
    pdf, 176.08 KB
  • Automated, unattended multi-angle transmission and absolute reflection measurements on architectural and automotive glass using 7000UMS
    pdf, 1.22 MB
  • Characterizing cube beamsplitters using 7000UMS
    pdf, 533.47 KB
  • Coated wafer mapping using 7000UMS
    pdf, 836.57 KB
  • Gaining deeper insights into thin film response using UMA
    pdf, 384.02 KB
  • High volume optical component testing using 7000UMS with solid autosampler
    pdf, 839.32 KB
  • Investigating the angular dependence of absolute specular reflection using 7000UMS
    pdf, 1 MB
  • Measuring angular refl ectance of optically active materials using 7000UMS
    pdf, 464.71 KB
  • Measuring optical densities over 10 Abs on the 7000UMS
    pdf, 286.07 KB
  • Optical characterization of thin films using UMA
    pdf, 289.05 KB
  • Quality control of beam splitters and quarterwave-mirrors using 7000UMS
    pdf, 1.7 MB
  • Stanovení stopových prvků v isopropylalkoholu pomocí MP-AES s EGCM
    pdf, 347.5 KB
  • Pozitivní a nedestruktivní identifikace nátěrů na akrylové bázi
    pdf, 1.85 MB
  • Stanovení směsného poměru v dvousložkových nátěrových systémech
    pdf, 299.7 KB